Skip to main content
Tagasi

EVS-EN 12698-2:2007

Chemical analysis of nitride bonded silicon carbide refractories - Part 2: XRD methods

Üldinfo

Kehtetu alates 17.02.2025
Alusdokumendid
EN 12698-2:2007
Tegevusala (ICS grupid)
71.040.40 Keemiline analüüs
Direktiivid või määrused
puuduvad

Standardi ajalugu

Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
06.06.2007
Põhitekst
This standard describes methods for the determination of mineralogical phases typically apparent in nitride and oxy-nitride bonded silicon carbide refractory products using a Bragg-Brentano diffractometer. It includes details of sample preparation and general principles for qualitative and quantitative analysis of mineralogical phase composition. Quantitative determination of α-Si3N4, β-Si3N4, Si2ON2, AlN, and SiAlON are described.

Nõutud väljad on tähistatud *

*
*
*
PDF
16,12 € koos KM-ga
Paber
16,12 € koos KM-ga
Sirvi standardit alates 2,48 € koos KM-ga
Standardi monitooring