Skip to main content
Tagasi

EVS-EN 60749-13:2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere

Üldinfo

Kehtetu alates 03.05.2018
Alusdokumendid
IEC 60749-13:2002; EN 60749-13:2002
Direktiivid või määrused
puuduvad

Standardi ajalugu

Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
03.05.2018
Põhitekst
01.03.2003
Põhitekst
Describes a salt atmosphere test that determines the resistance of semiconductor devices to corrosion. It is an accelerated test that simulates the effects of severe sea-coast atmosphere on all exposed surfaces. It is only applicable to those devices specified for a marine environment. The salt atmosphere test is considered destructive.

Nõutud väljad on tähistatud *

*
*
*
PDF
12,20 € koos KM-ga
Paber
12,20 € koos KM-ga
Sirvi standardit alates 2,44 € koos KM-ga
Standardi monitooring