Tagasi

Vabandust – see toode pole enam saadaval

EVS-EN 60749-5:2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test

Üldinfo
Kehtetu alates 17.07.2017
Alusdokumendid
IEC 60749-5:2003; EN 60749-5:2003
Direktiivid või määrused
puuduvad

Standardi ajalugu

Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
17.07.2017
Põhitekst
01.07.2003
Põhitekst
EVS-EN 60749-5:2003
Provides a steady-state temperature and humidity bias life test for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged solid-state devices in humid environments
*
*
*
PDF
10,98 € koos KM-ga
Paber
10,98 € koos KM-ga
Sirvi standardit alates 2,44 € koos KM-ga
Standardi monitooring