Tagasi

EVS-EN 60749-8:2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing

Üldinfo
Kehtiv alates 07.11.2003
Alusdokumendid
IEC 60749-8:2002; EN 60749-8:2003
Direktiivid või määrused
puuduvad

Standardi ajalugu

Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
07.11.2003
Põhitekst
Applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits), it determines the leak rate of semiconductor devices
*
*
*
PDF
17,08 € koos KM-ga
Paber
17,08 € koos KM-ga
Sirvi standardit alates 2,44 € koos KM-ga
Standardi monitooring