Tagasi

EVS-EN ISO 18452:2016

Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) - Determination of thickness of ceramic films by contact-probe profilometer (ISO 18452:2005)

Üldinfo
Kehtiv alates 03.05.2016
Alusdokumendid
ISO 18452:2005; EN ISO 18452:2016
Direktiivid või määrused
puuduvad
Standardi ajalugu
Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
03.05.2016
Põhitekst
01.05.2003
Põhitekst
ISO 18452:2005 specifies a method for the determination of the film thickness of a fine ceramic film and ceramic coatings by a contact-probe profilometer. The method is suitable for film thicknesses in the range of 10 nm to 10 000 nm.
*
*
*
PDF
9,61 € koos KM-ga
Paber
9,61 € koos KM-ga
Sirvi standardit: 2,40 € koos KM-ga
Standardi monitooring