Tagasi

IEC 60749-10:2002/COR1:2003

Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock

Üldinfo
Kehtetu alates 27.04.2022
Direktiivid või määrused
puuduvad

Standardi ajalugu

Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
27.04.2022
Põhitekst
13.08.2003
Parandus
Modification of the validity date: now put at 2007.
*
*
*
Sirvi standardit: 0€
Standardi monitooring