Skip to main content
Tagasi

IEC 60749-4:2002/COR1:2003

Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)

Üldinfo

Kehtetu alates 03.03.2017
Direktiivid või määrused
puuduvad

Standardi ajalugu

Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
03.03.2017
Põhitekst
Modification of the validity date: now put at 2007.

Nõutud väljad on tähistatud *

*
*
*
Sirvi standardit: 0€
Standardi monitooring