Tagasi

IEC 62373-1:2020

Semiconductor devices - Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) - Part 1: Fast BTI test for MOSFET

Üldinfo
Kehtiv alates 15.07.2020
Tegevusala (ICS grupid)
31.080.30 Transistorid
Direktiivid või määrused
puuduvad
Standardi ajalugu
Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
15.07.2020
Põhitekst
IEC 62373-1:2020 provides the measurement procedure for a fast BTI (bias temperature instability) test of silicon based metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFETs). This document also defines the terms pertaining to the conventional BTI test method.
*
*
*
PDF
160,15 € koos KM-ga
Paber
160,15 € koos KM-ga
Standardi monitooring