Tagasi

IEC 62374-1:2010

Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers

Üldinfo
Kehtiv alates 29.09.2010
Tegevusala (ICS grupid)
31.080.99 Muud pooljuhtseadised
Direktiivid või määrused
puuduvad
Standardi ajalugu
Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
29.09.2010
Põhitekst
IEC 62374-1:2010 describes a test method, test structure and lifetime estimation method of the time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers applied in semiconductor devices.
*
*
*
PDF
77,77 € koos KM-ga
Paber
77,77 € koos KM-ga
Standardi monitooring