Tagasi

IEC 62416:2010

Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors

Üldinfo
Kehtiv alates 26.04.2010
Tegevusala (ICS grupid)
31.080.30 Transistorid
Direktiivid või määrused
puuduvad
Standardi ajalugu
Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
26.04.2010
Põhitekst
IEC 62416:2010 describes the wafer level hot carrier test on NMOS and PMOS transistors. The test is intended to determine whether the single transistors in a certain (C)MOS process meet the required hot carrier lifetime.
*
*
*
PDF
46,28 € koos KM-ga
Paber
46,28 € koos KM-ga
Standardi monitooring