Tagasi

ISO 16413:2013

Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry -- Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting

Üldinfo
Kehtetu alates 14.08.2020
Direktiivid või määrused
puuduvad

Standardi ajalugu

Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
14.08.2020
Põhitekst
12.02.2013
Põhitekst
*
*
*
PDF
79,98 € koos KM-ga
Paber
79,98 € koos KM-ga
Standardi monitooring