Skip to main content
Tagasi

ISO 24173:2024

Microbeam analysis — Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction

Üldinfo

Kehtiv alates 09.02.2024
Direktiivid või määrused
puuduvad

Standardi ajalugu

Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
09.02.2024
Põhitekst
14.09.2009
Põhitekst
This document gives guidance on how to generate reliable and reproducible crystallographic orientation measurements using electron backscatter diffraction (EBSD). It addresses the requirements for specimen preparation, instrument configuration, instrument calibration and data acquisition.

Nõutud väljad on tähistatud *

*
*
*
PDF
230,43 € koos KM-ga
Paber
230,43 € koos KM-ga
Standardi monitooring