Tagasi

prEN IEC 60749-5:2022

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test

Üldinfo
Kavand
Alusdokumendid
47/2770/CDV; prEN IEC 60749-5:2022
Direktiivid või määrused
puuduvad
Standardi ajalugu
Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
17.07.2017
Põhitekst
This part of IEC 60749 provides a steady-state temperature and humidity bias life test to evaluate the reliability of non-hermetic packaged semiconductor devices in humid environments. This test method is considered destructive.
*
*
*
PDF
3,00 € koos KM-ga
Paber
3,00 € koos KM-ga
Standardi monitooring