Tagasi

EVS-EN 60749-43:2017

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans

Üldinfo
Kehtiv alates 18.09.2017
Alusdokumendid
IEC 60749-43:2017; EN 60749-43:2017
Direktiivid või määrused
puuduvad

Standardi ajalugu

Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
18.09.2017
Põhitekst
IEC 60749-43:2017 gives guidelines for reliability qualification plans of semiconductor integrated circuit products (ICs). This document is not intended for military- and space-related applications.
*
*
*
PDF
26,84 € koos KM-ga
Paber
26,84 € koos KM-ga
Sirvi standardit alates 2,44 € koos KM-ga
Standardi monitooring