Tagasi

IEC 60749-43:2017

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans

Üldinfo
Kehtetu alates 25.08.2021
Direktiivid või määrused
puuduvad

Standardi ajalugu

Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
15.06.2017
Põhitekst
IEC 60749-43:2017 gives guidelines for reliability qualification plans of semiconductor integrated circuit products (ICs). This document is not intended for military- and space-related applications.
*
*
*
PDF
308,11 € koos KM-ga
Paber
308,11 € koos KM-ga
Standardi monitooring