Tagasi

EVS-EN 60749-27:2006

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)

Üldinfo
Kehtiv alates 06.10.2006
Alusdokumendid
IEC 60749-27:2006; EN 60749-27:2006
Direktiivid või määrused
puuduvad

Standardi ajalugu

Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
05.12.2012
Muudatus
06.10.2006
Põhitekst
This part of IEC 60749 establishes a standard procedure for testing and classifying semiconductor devices according to their susceptibility to damage or degradation by exposure to a defined machine model (MM) electrostatic discharge (ESD). It may be used as an alternative test method to the human body model ESD test method. The objective is to provide reliable, repeatable ESD test results so that accurate classifications can be performed.
*
*
*
PDF
23,18 € koos KM-ga
Paber
23,18 € koos KM-ga
Sirvi standardit alates 2,44 € koos KM-ga
Standardi monitooring

Teised on ostnud veel

Põhitekst

EVS-EN ISO 20345:2011

Isikukaitsevahendid. Kaitsejalanõud (ISO 20345:2011)
Kehtetu alates 01.04.2022