Tagasi

EVS-EN ISO 12179:2000

Geometrical Product Specifications (GPS) - Surface texture: Profil method - Calibration of contact (stylus) instruments

Üldinfo
Kehtiv alates 01.10.2000
Alusdokumendid
ISO 12179:2000; EN ISO 12179:2000
Direktiivid või määrused
puuduvad
Standardi ajalugu
Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
Põhitekst
07.11.2008
Parandus
01.10.2000
Põhitekst
This International Standard applies to to the calibration of the metrological characteristics of contact (stylus) instruments for the measurement of surface texture by the profil method as defined in ISO 3274.
*
*
*
PDF
10,19 €
Paber
10,19 €
Hind: 2,00 €
Standardi monitooring