Skip to main content
Tagasi

IEC 60749-2:2002/COR1:2003

Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure

Üldinfo

Kehtiv alates 12.08.2003
Direktiivid või määrused
puuduvad

Standardi ajalugu

Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
12.08.2003
Parandus
12.04.2002
Põhitekst
Modification of the validity date: now put at 2007.

Nõutud väljad on tähistatud *

*
*
*
Sirvi standardit: 0€
Standardi monitooring