Skip to main content
Tagasi

ISO 23131-3:2026

Ellipsometry — Part 3: Transparent single layer model

Üldinfo

Kehtiv alates 30.01.2026
Direktiivid või määrused
puuduvad

Standardi ajalugu

Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
30.01.2026
Põhitekst
This document uses ellipsometric measurements and their analysis to specify the method for the determination of the layer thickness d of a transparent layer and the optical (refractive index n) or dielectric (real part ε1) constants/functions based on the transparent single layer model within a spectral region, for which k = 0 applies.

Nõutud väljad on tähistatud *

*
*
*
PDF
212,09 € koos KM-ga
Paber
212,09 € koos KM-ga
Standardi monitooring