Tagasi

EVS-EN 2155-8:2000

Lennunduse ja kosmonautika seeria. Läbipaistvate lennukiklaasimise materjalide katsemeetodid. Osa 8: Optilise moonutuse määramine

Üldinfo
Kehtiv alates 01.01.2000
Alusdokumendid
EN 2155-8:1989
Direktiivid või määrused
puuduvad
Standardi ajalugu
Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
01.01.2000
Põhitekst
Standard määrab kindlaks optilise moonutuse mõõtmise meetodi. Meetod sisaldab kõrvalekalde muutuse määramise kogu materjali pinna ulatuses. Meetod võimaldab materjali vaatlemist eri nurkade alt, mis on kindlaks määratud vastavalt testitava lehtmaterjali kvaliteedile.
*
*
*
PDF
6,74 € koos KM-ga
Paber
6,74 € koos KM-ga
Hind: 2,40 € koos KM-ga
Standardi monitooring