Skip to main content
Tagasi

EVS-EN 2155-8:2000

Lennunduse ja kosmonautika seeria. Läbipaistvate lennukiklaasimise materjalide katsemeetodid. Osa 8: Optilise moonutuse määramine

Üldinfo

Kehtiv alates 01.01.2000
Alusdokumendid
EN 2155-8:1989
Direktiivid või määrused
puuduvad

Standardi ajalugu

Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
01.01.2000
Põhitekst
Standard määrab kindlaks optilise moonutuse mõõtmise meetodi. Meetod sisaldab kõrvalekalde muutuse määramise kogu materjali pinna ulatuses. Meetod võimaldab materjali vaatlemist eri nurkade alt, mis on kindlaks määratud vastavalt testitava lehtmaterjali kvaliteedile.

Nõutud väljad on tähistatud *

*
*
*
PDF
8,54 € koos KM-ga
Paber
8,54 € koos KM-ga
Sirvi standardit alates 2,44 € koos KM-ga
Standardi monitooring