Skip to main content
Tagasi

EVS-EN 60512-25-3:2003

Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-3: Test 25c - Rise time degradation

Üldinfo

Kehtiv alates 01.03.2003
Alusdokumendid
IEC 60512-25-3:2001; EN 60512-25-3:2001
Direktiivid või määrused
puuduvad

Standardi ajalugu

Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
01.03.2003
Põhitekst
Describes a method for measuring the effect a specimen has on the rise time of a signal passing through it.

Nõutud väljad on tähistatud *

*
*
*
PDF
15,86 € koos KM-ga
Paber
15,86 € koos KM-ga
Sirvi standardit alates 2,44 € koos KM-ga
Standardi monitooring

Teised on ostnud veel

Põhitekst

EVS-EN 60512-15-8:2006

Electromechanical components for electronic equipment - Basic testing procedures and measuring methods - Part 15: Mechanical tests on contacts and terminations - Section 8: Test 15h - Contact retention system resistance to tool application
Uusim versioon Kehtiv alates 01.02.2006
Põhitekst

EVS-EN 60512-19-3:2002

Electromechanical components for electronic equipment - Basic testing procedures and measuring methods - Part 19: Chemical resistance tests - Section 3: Test 19c - Fluid resistance
Uusim versioon Kehtiv alates 01.01.2003
Põhitekst

EVS-EN 60512-25-1:2003

Connectors for electronic equipment -Tests and measurements - Part 25-1: Test 25a - Crosstalk ratio
Uusim versioon Kehtiv alates 01.02.2003
Põhitekst

EVS-EN 60512-25-2:2003

Connectors for electronic equipment -Tests and measurements - Part 25-2: Test 25b: Attenuation (insertion loss)
Uusim versioon Kehtiv alates 01.02.2003