Skip to main content
Tagasi

EVS-EN 60747-5-3:2002/A1:2003

Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Part 5-3: Optoelectronic devices - Measuring methods

Üldinfo

Kehtetu alates 16.10.2023
Alusdokumendid
IEC 60747-5-3:1997/A1:2002; EN 60747-5-3:2001/A1:2002
Direktiivid või määrused
puuduvad

Standardi ajalugu

Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
01.01.2003
Põhitekst
Describes the measuring methods applicable to the optoelectronic devices which are not intended to be used in the fibre optic systems or subsystems.

Nõutud väljad on tähistatud *

*
*
*
PDF
16,12 € koos KM-ga
Paber
16,12 € koos KM-ga
Sirvi standardit alates 2,48 € koos KM-ga
Standardi monitooring