Tagasi

EVS-EN 60749-1:2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General

Üldinfo
Kehtiv alates 07.11.2003
Alusdokumendid
IEC 60749-1:2002; EN 60749-1:2003
Direktiivid või määrused
puuduvad

Standardi ajalugu

Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
07.11.2003
Põhitekst
Põhitekst
Applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits) and establishes provisions common to all the other parts of the series
*
*
*
PDF
10,98 € koos KM-ga
Paber
10,98 € koos KM-ga
Sirvi standardit alates 2,44 € koos KM-ga
Standardi monitooring