Skip to main content
Tagasi

EVS-EN 61675-1:2014

Radioloogilised pildiseadmed. Omadused ja katsetingimused. Osa 1: Positronide emisssiooniga tomograafid

Üldinfo

Kehtetu alates 17.05.2022
Alusdokumendid
IEC 61675-1:2013; EN 61675-1:2014
Tegevusala (ICS grupid)
11.040.50 Radiograafiaseadmed
Direktiivid või määrused
puuduvad

Standardi ajalugu

Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
17.05.2022
Põhitekst
01.07.2014
Põhitekst
05.09.2008
Muudatus
EVS-EN 61675-1:2002/A1:2008
01.01.2003
Põhitekst
EVS-EN 61675-1:2002
IEC 61675-1:2013 specifies terminology and test methods for declaring the characteristics of positron emission tomographs. Positron emission tomographs detect the annihilation radiation of positron emitting Radionuclides by coincidence detection. No test has been specified to characterize the uniformity of reconstructed images, because all methods known so far will mostly reflect the noise in the image. This second edition replaces the first edition of IEC 61675-1, published in 1998. This edition constitutes a technical revision. Requirements have been changed regarding the following technical aspects:  - spatial resolution;  - sensitivity measurement;  - scatter fraction;  - count rate performance;  - and image quality. Keywords: imaging, medical device

Nõutud väljad on tähistatud *

*
*
*
PDF
26,84 € koos KM-ga
Paber
26,84 € koos KM-ga
Sirvi standardit alates 2,44 € koos KM-ga
Standardi monitooring

Teised on ostnud veel

Põhitekst

EVS-EN 61675-2:2015

Radionuclide imaging devices - Characteristics and conditions - Part 2: Gamma cameras for planar, wholebody, and SPECT imaging
Uusim versioon Kehtiv alates 03.12.2015
Põhitekst

EVS-EN 1389:2004

Advanced technical ceramics - Ceramic composites - Physical properties - Determination of density and apparent porosity
Kehtetu alates 02.05.2022
Põhitekst

EVS-EN ISO 3452-1:2013

Mittepurustavad katsed. Kapillaarkatse. Osa 1: Üldpõhimõtted
Kehtetu alates 20.07.2021
Põhitekst

EVS-EN ISO 4288:1999

Toote geomeetriline kirjeldus ja tehnilised andmed (GPS). Pinnatekstuur: profiilimeetod. Juhised ja tegevusskeemid pinnatekstuuri hindamiseks
Kehtetu alates 01.02.2022