Skip to main content
Tagasi

EVS-EN IEC 63287-2:2023

Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 2: Concept of mission profile

Üldinfo

Kehtiv alates 01.06.2023
Alusdokumendid
IEC 63287-2:2023; EN IEC 63287-2:2023
Direktiivid või määrused
puuduvad

Standardi ajalugu

Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
01.06.2023
Põhitekst
This part of IEC 63287 gives guidelines for the development of reliability qualification plans using the concept of mission profile, based on the environmental conditioning and proposed usage of the product. This document is not intended for military- and space-related applications.

Nõutud väljad on tähistatud *

*
*
*
PDF
15,86 € koos KM-ga
Paber
15,86 € koos KM-ga
Sirvi standardit alates 2,44 € koos KM-ga
Standardi monitooring