Skip to main content
Tagasi

EVS-EN ISO 11562:1999

Toote geomeetriline kirjeldus ja tehnilised andmed (GPS ). Pinnatekstuur: profiilimeetod.Faasikorrektsioonifiltrite metroloogilised karakteristikud

Üldinfo

Kehtetu alates 05.09.2012
Alusdokumendid
ISO 11562:1996; EN ISO 11562:1997
Tegevusala (ICS grupid)
17.040.20 Pindade omadused
Direktiivid või määrused
puuduvad

Standardi ajalugu

Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
05.09.2012
Põhitekst
07.11.2008
Parandus
Käesolev rahvusvaheline standard määrab kindlaks faasi korrektsioonfiltrite metroloogilised karakteristikud pinnaprofiilide mõõtmiseks. Eelkõige määrab käesolev standard kindlaks, kuidas eraldada pinnaprofiili pika- ja lühilainelist osa.

Nõutud väljad on tähistatud *

*
*
*
PDF
12,20 € koos KM-ga
Paber
12,20 € koos KM-ga
Sirvi standardit alates 2,44 € koos KM-ga
Standardi monitooring