Skip to main content
Tagasi

IEC 62373:2006

Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)

Üldinfo

Kehtiv alates 18.07.2006
Tegevusala (ICS grupid)
31.080.30 Transistorid
Direktiivid või määrused
puuduvad

Standardi ajalugu

Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
18.07.2006
Põhitekst
Provides a test procedure for a bias-temperature (BT) stability test of metal-oxide semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)

Nõutud väljad on tähistatud *

*
*
*
PDF
106,71 € koos KM-ga
Paber
106,71 € koos KM-ga
Standardi monitooring