Skip to main content
Tagasi

ISO 17470:2014

Microbeam analysis -- Electron probe microanalysis -- Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry

Üldinfo

Kehtiv alates 06.01.2014
Direktiivid või määrused
puuduvad

Standardi ajalugu

Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
06.01.2014
Põhitekst
Põhitekst
ISO 17470:2014 gives guidance for the identification of elements and the investigation of the presence of specific elements within a specific volume (on a μm3 scale) contained in a specimen, by analysing X-ray spectra obtained using wavelength dispersive X-ray spectrometers on an electron probe microanalyser or on a scanning electron microscope.

Nõutud väljad on tähistatud *

*
*
*
PDF
82,61 € koos KM-ga
Paber
82,61 € koos KM-ga
Standardi monitooring