Skip to main content
Tagasi

EVS-EN 60191-6-20:2010

Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-20: General rules forthe preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Measuring methods for package dimensions of small outline J-lead packages (SOJ)

Üldinfo

Kehtiv alates 06.12.2010
Alusdokumendid
IEC 60191-6-20:2010; EN 60191-6-20:2010
Direktiivid või määrused
puuduvad

Standardi ajalugu

Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
06.12.2010
Põhitekst
This part of IEC 60191 specifies methods to measure package dimensions of small outline J-lead-packages (SOJ), package outline form E in accordance with IEC 60191-4.

Nõutud väljad on tähistatud *

*
*
*
PDF
12,40 € koos KM-ga
Paber
12,40 € koos KM-ga
Sirvi standardit alates 2,48 € koos KM-ga
Standardi monitooring