Skip to main content
Tagasi

EVS-EN 60747-16-4:2004/A2:2017

Semiconductor devices - Part 16-4: Microwave integrated circuits - Switches

Üldinfo

Kehtiv alates 01.12.2017
Alusdokumendid
IEC 60747-16-4:2004/A2:2017; EN 60747-16-4:2004/A2:2017
Tegevusala (ICS grupid)
31.080.99 Muud pooljuhtseadised
Direktiivid või määrused
puuduvad

Standardi ajalugu

Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
01.12.2017
Muudatus
10.12.2004
Põhitekst
Amendment for EN 60747-16-4:2004

Nõutud väljad on tähistatud *

*
*
*
PDF
8,54 € koos KM-ga
Paber
8,54 € koos KM-ga
Sirvi standardit alates 2,44 € koos KM-ga
Standardi monitooring

Teised on ostnud veel

Põhitekst

EVS-EN 62047-26:2016

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 26: Description and measurement methods for micro trench and needle structures
Uusim versioon Kehtiv alates 03.05.2016
Põhitekst

EVS-EN 62047-25:2016

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 25: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of pull-press and shearing strength of micro bonding area
Uusim versioon Kehtiv alates 06.12.2016
Põhitekst

EVS-EN 62047-21:2014

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 21: Test method for Poisson's ratio of thin film MEMS materials
Uusim versioon Kehtiv alates 07.11.2014
Põhitekst

EVS-EN 62047-22:2014

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 22: Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates
Uusim versioon Kehtiv alates 07.11.2014