Tagasi

EVS-EN 62047-1:2016

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 1: Terms and definitions

Üldinfo

Kehtiv alates 03.05.2016
Alusdokumendid
IEC 62047-1:2016; EN 62047-1:2016
Tegevusala (ICS grupid)
31.080.99 Muud pooljuhtseadised
Direktiivid või määrused
puuduvad

Standardi ajalugu

Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
03.05.2016
Põhitekst
EVS-EN 62047-1:2016
06.10.2006
Põhitekst
EVS-EN 62047-1:2006
IEC 62047-1:2016 defines terms for micro-electromechanical devices including the process of production of such devices.
This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition:
a) removal of ten terms;
b) revision of twelve terms;
c) addition of sixteen new terms.

Nõutud väljad on tähistatud *

*
*
*
PDF
24,40 € koos KM-ga
Paber
24,40 € koos KM-ga
Sirvi standardit alates 2,44 € koos KM-ga
Standardi monitooring
Inglise (PDF 301 KB)

Seotud tooted

Põhitekst + muudatus

EVS-EN IEC 62031:2020+A11:2021

Üldtarbevalgustuse leedmoodulid. Ohutusnõuded
Uusim versioon Kehtiv alates 31.12.2021
Põhitekst

EVS-EN IEC 62031:2020

Üldtarbevalgustuse leedmoodulid. Ohutusnõuded
Kehtiv alates 02.04.2020
Põhitekst + muudatus

EVS-EN 62031:2008+A1:2013+A2:2015

Üldtarbevalgustuse valgusdioodmoodulid. Ohutusnõuded
Kehtetu alates 02.04.2020
Põhitekst

EVS-EN IEC 62384:2020

DC or AC supplied electronic controlgear for LED modules - Performance requirements
Uusim versioon Kehtiv alates 16.07.2020

Teised on ostnud veel

Põhitekst

EVS-EN 62047-10:2011

Semiconductor devices - Microelectromechanical devices - Part 10: Micro-pillar compression test for MEMS materials
Uusim versioon Kehtiv alates 04.10.2011
Põhitekst

EVS-EN 62047-2:2006

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices -- Part 2: Tensile testing methods of thin film materials
Uusim versioon Kehtiv alates 06.11.2006
Põhitekst

EVS-EN 62047-3:2006

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices -- Part 3: Thin film standard test piece for tensile-testing
Uusim versioon Kehtiv alates 06.11.2006
Põhitekst

EVS-EN 62047-6:2010

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices -- Part 6: Axial fatigue testing methods of thin film materials
Uusim versioon Kehtiv alates 06.05.2010

Standardite lühendid

EVS Eesti standard
EN Euroopa standard (avaldatud Euroopa standardimisorganisatsioonide CEN või CENELEC poolt)
EN ISO Euroopa standardina avaldatud Rahvusvahelise Standardimisorganisatsiooni standard
ISO Rahvusvahelise Standardimisorganisatsiooni standard
IEC Rahvusvahelise Elektrotehnika Komisjoni standard
HD Euroopa Elektrotehnika Standardimiskomitee harmoneerimisdokument
   
EVS-EN Euroopa standard avaldatud Eesti standardina
EVS-EN ISO Euroopa standardina ülevõetud Rahvusvahelise Standardimisorganisatsiooni standard ja avaldatud Eesti standardina
EVS-EN ISO/IEC Euroopa standardina ülevõetud Rahvusvahelise Standardimisorganisatsiooni standard/Rahvusvahelise Elektrotehnika Komisjoni standard avaldatud Eesti standardina
EVS-IEC Rahvusvahelise Elektrotehnika Komisjoni standard avaldatud Eesti standardina
EVS-ISO Rahvusvaheline standard avaldatud Eesti standardina
   
A, AMD muudatus
+A standardi tekst ja muudatus
/A ainult muudatus
COR, AC parandus
+COR Standardi tekst ja parandus
NA rahvuslik lisa
+NA standardi tekst ja rahvuslik lisa
/NA ainult rahvuslik lisa
TS tehniline spetsifikatsioon
TR tehniline aruanne
CWA CENi või CENELECi töörühma kokkulepe
prEVS-EN (jne) standardi kavand
   
et standard on eesti keeles
en standard on inglise keeles
et-en standard on paralleeltekstina eesti-inglise keeles