Tagasi

EVS-EN 62374-1:2010/AC:2011

Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers

Üldinfo
Kehtiv alates 04.05.2011
Alusdokumendid
EN 62374-1:2010/AC:2011
Tegevusala (ICS grupid)
31.080 Pooljuhtseadised
Direktiivid või määrused
puuduvad

Standardi ajalugu

Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
04.05.2011
Parandus
05.01.2011
Põhitekst
Corrigendum to EVS-EN 62374-1:2010.
*
*
*
Sirvi standardit: 0€
Standardi monitooring