Tagasi

EVS-EN 62374-1:2010

Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers

Üldinfo
Kehtiv alates 05.01.2011
Alusdokumendid
IEC 62374-1:2010; EN 62374-1:2010
Tegevusala (ICS grupid)
31.080 Pooljuhtseadised
Direktiivid või määrused
puuduvad
Standardi ajalugu
Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
04.05.2011
Parandus
05.01.2011
Põhitekst
Põhitekst
This part of IEC 62374 describes a test method, test structure and lifetime estimation method of the time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers applied in semiconductor devices.
*
*
*
PDF
11,39 € koos KM-ga
Paber
11,39 € koos KM-ga
Hind: 2,40 € koos KM-ga
Standardi monitooring