Tagasi

EVS-EN 62374:2007

Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films

Üldinfo
Kehtetu alates 05.01.2011
Alusdokumendid
IEC 62374:2007; EN 62374:2007
Tegevusala (ICS grupid)
31.080 Pooljuhtseadised
Direktiivid või määrused
puuduvad
Standardi ajalugu
Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
05.01.2011
Põhitekst
Põhitekst
This International Standard provides a test method of Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) for gate dielectric films on semiconductor devices and a product lifetime estimation method of TDDB failure.
*
*
*
PDF
15,01 € koos KM-ga
Paber
15,01 € koos KM-ga
Hind: 2,40 € koos KM-ga
Standardi monitooring