Tagasi

IEC 60747-1:2006+AMD1:2010 CSV

Semiconductor devices - Part 1: General

Üldinfo

Kehtiv alates 23.08.2010
Tegevusala (ICS grupid)
31.080.01 Pooljuhtseadised üldiselt
Direktiivid või määrused
puuduvad

Standardi ajalugu

Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
23.08.2010
Põhitekst
IEC 60747-1:2006+AMD1:2010 CSV
IEC 60747-1:2006+A1:2010 gives the general requirements applicable to the discrete semiconductor devices and integrated circuits covered by the other parts of IEC 60747 and IEC 60748 (see Annex A).

This consolidated version consists of the second edition (2006)  
and its amendment 1 (2010). Therefore, no need to order amendment in
addition to this publication.                                  

Nõutud väljad on tähistatud *

*
*
*
PDF
504,79 € koos KM-ga
Paber
504,79 € koos KM-ga
Standardi monitooring
Inglise (PDF 902 KB)

Seotud tooted

Põhitekst

EVS-EN IEC 60747-5-5:2020

Semiconductor devices - Part 5-5: Optoelectronic devices - Photocouplers
Uusim versioon Kehtiv alates 02.10.2020
Põhitekst

EVS-EN 60749-34:2010

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling
Uusim versioon Kehtiv alates 05.01.2011
Muudatus

EVS-EN 60747-5-5:2011/A1:2015

Semiconductor devices - Discrete devices - Part 5-5: Optoelectronic devices - Photocouplers
Kehtetu alates 02.10.2020
Põhitekst

EVS-EN IEC 60749-26:2018

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
Uusim versioon Kehtiv alates 02.04.2018

Teised on ostnud veel

Põhitekst

IEC 60747-7:2010+AMD1:2019 CSV

Semiconductor devices - Discrete devices - Part 7: Bipolar transistors
Uusim versioon Kehtiv alates 23.09.2019
Põhitekst

IEC 60747-8:2010+AMD1:2021 CSV

Semiconductor devices - Discrete devices - Part 8: Field-effect transistors
Uusim versioon Kehtiv alates 25.06.2021
Põhitekst

IEC 60855-1:2009

Live working - Insulating foam-filled tubes and solid rods - Part 1: Tubes and rods of a circular cross-section
Kehtetu alates 27.04.2016
Põhitekst

IEC 60747-3:2013

Semiconductor devices - Part 3: Discrete devices: Signal, switching and regulator diodes
Uusim versioon Kehtiv alates 09.07.2013

Standardite lühendid

EVS Eesti standard
EN Euroopa standard (avaldatud Euroopa standardimisorganisatsioonide CEN või CENELEC poolt)
EN ISO Euroopa standardina avaldatud Rahvusvahelise Standardimisorganisatsiooni standard
ISO Rahvusvahelise Standardimisorganisatsiooni standard
IEC Rahvusvahelise Elektrotehnika Komisjoni standard
HD Euroopa Elektrotehnika Standardimiskomitee harmoneerimisdokument
   
EVS-EN Euroopa standard avaldatud Eesti standardina
EVS-EN ISO Euroopa standardina ülevõetud Rahvusvahelise Standardimisorganisatsiooni standard ja avaldatud Eesti standardina
EVS-EN ISO/IEC Euroopa standardina ülevõetud Rahvusvahelise Standardimisorganisatsiooni standard/Rahvusvahelise Elektrotehnika Komisjoni standard avaldatud Eesti standardina
EVS-IEC Rahvusvahelise Elektrotehnika Komisjoni standard avaldatud Eesti standardina
EVS-ISO Rahvusvaheline standard avaldatud Eesti standardina
   
A, AMD muudatus
+A standardi tekst ja muudatus
/A ainult muudatus
COR, AC parandus
+COR Standardi tekst ja parandus
NA rahvuslik lisa
+NA standardi tekst ja rahvuslik lisa
/NA ainult rahvuslik lisa
TS tehniline spetsifikatsioon
TR tehniline aruanne
CWA CENi või CENELECi töörühma kokkulepe
prEVS-EN (jne) standardi kavand
   
et standard on eesti keeles
en standard on inglise keeles
et-en standard on paralleeltekstina eesti-inglise keeles