Skip to main content
Tagasi

IEC 60749-17:2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation

Üldinfo

Kehtetu alates 28.03.2019
Direktiivid või määrused
puuduvad

Standardi ajalugu

Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
28.03.2019
Põhitekst
20.02.2003
Põhitekst
Used to determine the susceptibility of semiconductor devices to degradation in the neutron environment. Applicable to integrated circuits and discrete semiconductor devices.

Nõutud väljad on tähistatud *

*
*
*
PDF
26,67 € koos KM-ga
Paber
26,67 € koos KM-ga
Standardi monitooring