Skip to main content
Tagasi

IEC 60749-30:2005/AMD1:2011

Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing

Üldinfo

Kehtetu alates 17.08.2020
Direktiivid või määrused
puuduvad

Standardi ajalugu

Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
25.05.2011
Muudatus

Nõutud väljad on tähistatud *

*
*
*
PDF
26,22 € koos KM-ga
Paber
26,22 € koos KM-ga
Standardi monitooring