Tagasi

IEC 60749-30:2005/AMD1:2011

Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing

Üldinfo
Kehtetu alates 17.08.2020
Direktiivid või määrused
puuduvad
Standardi ajalugu
Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
17.08.2020
Põhitekst
25.05.2011
Muudatus
*
*
*
PDF
23,14 € koos KM-ga
Paber
23,14 € koos KM-ga
Standardi monitooring