Skip to main content
Tagasi

IEC 60749-36:2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36: Acceleration, steady state

Üldinfo

Kehtiv alates 13.02.2003
Direktiivid või määrused
puuduvad

Standardi ajalugu

Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
13.02.2003
Põhitekst
Provides a test for determining the effects of constant acceleration on cavity-type semiconductor devices. It is an accelerated test designed to indicate types of structural and mechanical weaknesses not necessarily detected in shock and vibration test.

Nõutud väljad on tähistatud *

*
*
*
PDF
13,34 € koos KM-ga
Paber
13,34 € koos KM-ga
Standardi monitooring