Tagasi

IEC 62899-503-1:2020

Printed electronics - Part 503-1: Quality assessment - Test method of displacement current measurement for printed thin-film transistor

Üldinfo
Kehtiv alates 27.05.2020
Direktiivid või määrused
puuduvad
Standardi ajalugu
Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
27.05.2020
Põhitekst
IEC 62899-503-1:2020(E) specifies a test method for displacement current measurement (DCM) for printed thin film transistors (TFTs) or organic thin film transistors (OTFTs).
*
*
*
PDF
77,32 € koos KM-ga
Paber
77,32 € koos KM-ga
Standardi monitooring