Tagasi

IEC 63275-1:2022

Semiconductor devices - Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors - Part 1: Test method for bias temperature instability

Üldinfo

Kehtiv alates 21.04.2022
Tegevusala (ICS grupid)
31.080.30 Transistorid
Direktiivid või määrused
puuduvad

Standardi ajalugu

Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
21.04.2022
Põhitekst
IEC 63275-1:2022
IEC 63275-1:2022 gives a test method to evaluate gate threshold voltage shift of silicon carbide (SiC) power metal-oxide-semiconductor field-effect transistors (MOSFETs) using room temperature readout after applying continuous positive gate-source voltage stress at elevated temperature. The proposed method accepts a certain amount of recovery by allowing large delay times between stress and measurement (up to 10 h).

Nõutud väljad on tähistatud *

*
*
*
PDF
104,90 € koos KM-ga
Paber
104,90 € koos KM-ga
Standardi monitooring
Inglise (PDF 741 KB)

Seotud tooted

Muudatus

IEC 60747-8:2010/AMD1:2021

Amendment 1 - Semiconductor devices - Discrete devices - Part 8: Field-effect transistors
Uusim versioon Kehtiv alates 25.06.2021
Põhitekst

IEC 60747-8:2010+AMD1:2021 CSV

Semiconductor devices - Discrete devices - Part 8: Field-effect transistors
Uusim versioon Kehtiv alates 25.06.2021
Põhitekst

IEC 60747-7:2010+AMD1:2019 CSV

Semiconductor devices - Discrete devices - Part 7: Bipolar transistors
Uusim versioon Kehtiv alates 23.09.2019
Põhitekst

IEC 63275-2:2022

Semiconductor devices - Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors - Part 2: Test method for bipolar degradation due to body diode operation
Uusim versioon Kehtiv alates 11.05.2022

Standardite lühendid

EVS Eesti standard
EN Euroopa standard (avaldatud Euroopa standardimisorganisatsioonide CEN või CENELEC poolt)
EN ISO Euroopa standardina avaldatud Rahvusvahelise Standardimisorganisatsiooni standard
ISO Rahvusvahelise Standardimisorganisatsiooni standard
IEC Rahvusvahelise Elektrotehnika Komisjoni standard
HD Euroopa Elektrotehnika Standardimiskomitee harmoneerimisdokument
   
EVS-EN Euroopa standard avaldatud Eesti standardina
EVS-EN ISO Euroopa standardina ülevõetud Rahvusvahelise Standardimisorganisatsiooni standard ja avaldatud Eesti standardina
EVS-EN ISO/IEC Euroopa standardina ülevõetud Rahvusvahelise Standardimisorganisatsiooni standard/Rahvusvahelise Elektrotehnika Komisjoni standard avaldatud Eesti standardina
EVS-IEC Rahvusvahelise Elektrotehnika Komisjoni standard avaldatud Eesti standardina
EVS-ISO Rahvusvaheline standard avaldatud Eesti standardina
   
A, AMD muudatus
+A standardi tekst ja muudatus
/A ainult muudatus
COR, AC parandus
+COR Standardi tekst ja parandus
NA rahvuslik lisa
+NA standardi tekst ja rahvuslik lisa
/NA ainult rahvuslik lisa
TS tehniline spetsifikatsioon
TR tehniline aruanne
CWA CENi või CENELECi töörühma kokkulepe
prEVS-EN (jne) standardi kavand
   
et standard on eesti keeles
en standard on inglise keeles
et-en standard on paralleeltekstina eesti-inglise keeles