Tagasi

IEC 63275-2:2022

Semiconductor devices - Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors - Part 2: Test method for bipolar degradation due to body diode operation

Üldinfo

Kehtiv alates 11.05.2022
Tegevusala (ICS grupid)
31.080.30 Transistorid
Direktiivid või määrused
puuduvad

Standardi ajalugu

Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
11.05.2022
Põhitekst
IEC 63275-2:2022
IEC 63275-2:2022 gives the test method and a procedure using this method to evaluate the on-state voltage change, on-state resistance change and reverse drain voltage change of silicon carbide (SiC) power MOSFET devices due to body diode operation. This test is not generally requested for Si power transistors.

Nõutud väljad on tähistatud *

*
*
*
PDF
52,45 € koos KM-ga
Paber
52,45 € koos KM-ga
Standardi monitooring
Inglise (PDF 721 KB)

Seotud tooted

Muudatus

IEC 60747-8:2010/AMD1:2021

Amendment 1 - Semiconductor devices - Discrete devices - Part 8: Field-effect transistors
Uusim versioon Kehtiv alates 25.06.2021
Põhitekst

IEC 60747-8:2010+AMD1:2021 CSV

Semiconductor devices - Discrete devices - Part 8: Field-effect transistors
Uusim versioon Kehtiv alates 25.06.2021
Põhitekst

IEC 60747-7:2010+AMD1:2019 CSV

Semiconductor devices - Discrete devices - Part 7: Bipolar transistors
Uusim versioon Kehtiv alates 23.09.2019
Põhitekst

IEC 63275-1:2022

Semiconductor devices - Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors - Part 1: Test method for bias temperature instability
Uusim versioon Kehtiv alates 21.04.2022

Standardite lühendid

EVS Eesti standard
EN Euroopa standard (avaldatud Euroopa standardimisorganisatsioonide CEN või CENELEC poolt)
EN ISO Euroopa standardina avaldatud Rahvusvahelise Standardimisorganisatsiooni standard
ISO Rahvusvahelise Standardimisorganisatsiooni standard
IEC Rahvusvahelise Elektrotehnika Komisjoni standard
HD Euroopa Elektrotehnika Standardimiskomitee harmoneerimisdokument
   
EVS-EN Euroopa standard avaldatud Eesti standardina
EVS-EN ISO Euroopa standardina ülevõetud Rahvusvahelise Standardimisorganisatsiooni standard ja avaldatud Eesti standardina
EVS-EN ISO/IEC Euroopa standardina ülevõetud Rahvusvahelise Standardimisorganisatsiooni standard/Rahvusvahelise Elektrotehnika Komisjoni standard avaldatud Eesti standardina
EVS-IEC Rahvusvahelise Elektrotehnika Komisjoni standard avaldatud Eesti standardina
EVS-ISO Rahvusvaheline standard avaldatud Eesti standardina
   
A, AMD muudatus
+A standardi tekst ja muudatus
/A ainult muudatus
COR, AC parandus
+COR Standardi tekst ja parandus
NA rahvuslik lisa
+NA standardi tekst ja rahvuslik lisa
/NA ainult rahvuslik lisa
TS tehniline spetsifikatsioon
TR tehniline aruanne
CWA CENi või CENELECi töörühma kokkulepe
prEVS-EN (jne) standardi kavand
   
et standard on eesti keeles
en standard on inglise keeles
et-en standard on paralleeltekstina eesti-inglise keeles