Tagasi

EVS-EN 60749-23:2004/A1:2011

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life

Üldinfo

Kehtetu alates 16.02.2026
Alusdokumendid
IEC 60749-23:2004/A1:2011; EN 60749-23:2004/A1:2011
Tegevusala (ICS grupid)
31.080.01 Pooljuhtseadised üldiselt
Direktiivid või määrused
puuduvad

Standardi ajalugu

Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
16.02.2026
Põhitekst
EVS-EN IEC 60749-23:2026
05.04.2011
Muudatus
EVS-EN 60749-23:2004/A1:2011
09.07.2004
Põhitekst
EVS-EN 60749-23:2004
This test is used to determine the effects of bias conditions and temperature on solid state devices over time. It simulates the device operating condition in an accelerated way, and is primarily used for device qualification and reliability monitoring.

Nõutud väljad on tähistatud *

*
*
*
PDF
8,68 € koos KM-ga
Paber
8,68 € koos KM-ga
Sirvi standardit alates 2,48 € koos KM-ga
Standardi monitooring

Seotud tooted

UUS
Põhitekst

EVS-EN IEC 60749-23:2026

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
Uusim versioon Kehtiv alates 16.02.2026
Põhitekst

EVS-EN 60749-23:2004

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
Kehtetu alates 16.02.2026
Põhitekst

EVS-EN IEC 60747-5-5:2020

Semiconductor devices - Part 5-5: Optoelectronic devices - Photocouplers
Uusim versioon Kehtiv alates 02.10.2020
Põhitekst

EVS-EN IEC 60749-26:2018

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
Uusim versioon Kehtiv alates 02.04.2018

Teised on ostnud veel

Põhitekst

EVS-EN ISO 1043-3:2016

Plastics - Symbols and abbreviated terms - Part 3: Plasticizers (ISO 1043-3:2016)
Uusim versioon Kehtiv alates 06.12.2016
Põhitekst

EVS-EN 60749-23:2004

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
Kehtetu alates 16.02.2026
Põhitekst

EVS-EN ISO/IEC 30111:2020

Information technology - Security techniques - Vulnerability handling processes (ISO/IEC 30111:2019)
Uusim versioon Kehtiv alates 15.06.2020
Põhitekst

EVS-EN IEC 60664-1:2020

Insulation coordination for equipment within low-voltage supply systems - Part 1: Principles, requirements and tests
Kehtiv alates 17.08.2020

Standardite lühendid

EVS Eesti standard
EN Euroopa standard (avaldatud Euroopa standardimisorganisatsioonide CEN või CENELEC poolt)
EN ISO Euroopa standardina avaldatud Rahvusvahelise Standardimisorganisatsiooni standard
ISO Rahvusvahelise Standardimisorganisatsiooni standard
IEC Rahvusvahelise Elektrotehnika Komisjoni standard
HD Euroopa Elektrotehnika Standardimiskomitee harmoneerimisdokument
   
EVS-EN Euroopa standard avaldatud Eesti standardina
EVS-EN ISO Euroopa standardina ülevõetud Rahvusvahelise Standardimisorganisatsiooni standard ja avaldatud Eesti standardina
EVS-EN ISO/IEC Euroopa standardina ülevõetud Rahvusvahelise Standardimisorganisatsiooni standard/Rahvusvahelise Elektrotehnika Komisjoni standard avaldatud Eesti standardina
EVS-IEC Rahvusvahelise Elektrotehnika Komisjoni standard avaldatud Eesti standardina
EVS-ISO Rahvusvaheline standard avaldatud Eesti standardina
   
A, AMD muudatus
+A standardi tekst ja muudatus
/A ainult muudatus
COR, AC parandus
+COR Standardi tekst ja parandus
NA rahvuslik lisa
+NA standardi tekst ja rahvuslik lisa
/NA ainult rahvuslik lisa
TS tehniline spetsifikatsioon
TR tehniline aruanne
CWA CENi või CENELECi töörühma kokkulepe
prEVS-EN (jne) standardi kavand
   
et standard on eesti keeles
en standard on inglise keeles
et-en standard on paralleeltekstina eesti-inglise keeles