Skip to main content
Tagasi

EVS-EN 60749-23:2004/A1:2011

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life

Üldinfo

Kehtiv alates 05.04.2011
Alusdokumendid
IEC 60749-23:2004/A1:2011; EN 60749-23:2004/A1:2011
Direktiivid või määrused
puuduvad

Standardi ajalugu

Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
Põhitekst
prEN IEC 60749-23:2024
05.04.2011
Muudatus
09.07.2004
Põhitekst
This test is used to determine the effects of bias conditions and temperature on solid state devices over time. It simulates the device operating condition in an accelerated way, and is primarily used for device qualification and reliability monitoring.

Nõutud väljad on tähistatud *

*
*
*
PDF
8,54 € koos KM-ga
Paber
8,54 € koos KM-ga
Sirvi standardit alates 2,44 € koos KM-ga
Standardi monitooring

Teised on ostnud veel

Põhitekst

EVS-EN ISO 1043-3:2016

Plastics - Symbols and abbreviated terms - Part 3: Plasticizers (ISO 1043-3:2016)
Uusim versioon Kehtiv alates 06.12.2016
Põhitekst

EVS-EN 60749-23:2004

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
Uusim versioon Kehtiv alates 09.07.2004
Põhitekst

EVS-EN ISO/IEC 30111:2020

Information technology - Security techniques - Vulnerability handling processes (ISO/IEC 30111:2019)
Uusim versioon Kehtiv alates 15.06.2020
Põhitekst

EVS-EN IEC 60664-1:2020

Insulation coordination for equipment within low-voltage supply systems - Part 1: Principles, requirements and tests
Uusim versioon Kehtiv alates 17.08.2020