Tagasi

EVS-EN 60749-6:2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature

Üldinfo
Kehtetu alates 05.07.2017
Alusdokumendid
IEC 60749-6:2002; EN 60749-6:2002
Direktiivid või määrused
puuduvad

Standardi ajalugu

Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
05.07.2017
Põhitekst
01.03.2003
Põhitekst
Aims at testing and determining the effect on all semiconductor electronic devices of storage at elevated temperature without electrical stress applied. This test is considered non-destructive.
*
*
*
PDF
12,20 € koos KM-ga
Paber
12,20 € koos KM-ga
Sirvi standardit alates 2,44 € koos KM-ga
Standardi monitooring