Skip to main content
Tagasi

EVS-EN 62373:2008

Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)

Üldinfo

Kehtiv alates 07.03.2008
Alusdokumendid
IEC 62373:2006; EN 62373:2006
Tegevusala (ICS grupid)
31.080 Pooljuhtseadised
Direktiivid või määrused
puuduvad

Standardi ajalugu

Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
07.03.2008
Põhitekst
This International Standard provides a test procedure for a bias-temperature (BT) stability test of metal-oxide semiconductor, field-effect transistors (MOSFET).

Nõutud väljad on tähistatud *

*
*
*
PDF
16,12 € koos KM-ga
Paber
16,12 € koos KM-ga
Sirvi standardit alates 2,48 € koos KM-ga
Standardi monitooring