Skip to main content
Tagasi

EVS-EN 62415:2010

Semiconductor devices - Constant current electromigration test

Üldinfo

Kehtiv alates 06.09.2010
Alusdokumendid
IEC 62415:2010; EN 62415:2010
Tegevusala (ICS grupid)
31.080 Pooljuhtseadised
Direktiivid või määrused
puuduvad

Standardi ajalugu

Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
06.09.2010
Põhitekst
This standard describes a method for conventional constant current electromigration testing of metal lines,  via string and contacts.

Nõutud väljad on tähistatud *

*
*
*
PDF
12,40 € koos KM-ga
Paber
12,40 € koos KM-ga
Sirvi standardit alates 2,48 € koos KM-ga
Standardi monitooring