Skip to main content
Tagasi

EVS-EN 62416:2010

Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors

Üldinfo

Kehtiv alates 06.09.2010
Alusdokumendid
IEC 62416:2010; EN 62416:2010
Tegevusala (ICS grupid)
31.080 Pooljuhtseadised
Direktiivid või määrused
puuduvad

Standardi ajalugu

Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
06.09.2010
Põhitekst
This standard describes the wafer level hot carrier test on NMOS and PMOS transistors. The test is intended to determine whether the single transistors in a certain (C)MOS process meet the required hot carrier lifetime.

Nõutud väljad on tähistatud *

*
*
*
PDF
12,40 € koos KM-ga
Paber
12,40 € koos KM-ga
Sirvi standardit alates 2,48 € koos KM-ga
Standardi monitooring